Cernox温度传感器碳陶瓷温度计低温测量-钛芮赫科技（北京）有限公司

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更新时间：2025-09-10 14:34:12浏览次数：123次

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产地	国产	温度范围	20mK -500K
封装形式	SD、CU、AA	推荐使用环境	推荐用于辐射环境
重复性	±3 mK @ 4.2 K

产地

国产

温度范围

20mK -500K

封装形式

SD、CU、AA

推荐使用环境

推荐用于辐射环境

重复性

±3 mK @ 4.2 K

Cernox低温温度传感器不仅具有灵敏度高、热响应快、工作温区范围大、热循环重复特性好和机械强度高等特性，还具有低磁阻、耐辐照和年漂移量小等优点，可广泛应用于低温超低温系统、超导磁体系统、加速器、对撞机、同步辐射源、xian进光源、中子源、高能物理、天文望远镜、宇宙微波背景辐射探测和量子计算等领域。Cernox温度传感器碳陶瓷温度计低温测量
Cernox低温温度计的温度传感单元是磁控反应溅射生长的Cernox薄膜，通过调节磁控反应溅射中氨氧化物比例和生长温度来调节Cernox薄膜的温度响应范围，结合xian进的光刻技术和封装工艺,实现从20mK -500K温度范围的全覆盖,标称校准温度范围：2.8 K- 325K,可扩展到20mK温度下限和500K温度上限。Cernox低温温度计的典型温度准确性:

±5mK@1K； ±5mK@4.2K；±15mK@77K；±50mK@ 300K。

Cernox低温温度计有SD、CU和AA三种标准封装，也可定制尺寸更小质量更轻、热响应更快的Cernox裸芯片，而在超薄蓝宝石衬底上生长和加工的一体式Cernox裸芯片和低磁阻加热器是热容测试的shou选。Cernox温度传感器碳陶瓷温度计低温测量

Cernox®低温温度计典型特征
工作温度范围大	低磁阻，对磁场不敏感
高灵敏度	耐高能辐照
机械强度高	热响应快
热循环重复特性好	优异短稳和长稳特性
年漂移量小

Cernox®低温温度计与磁场相关的典型温度误差表
	1T	2T	3T	4T	5T	6T	7T	8T	9T	10T	11T	12T	13T	14T
1.45K	0.34	1.19	2.49	3.46	4.16	4.79	5.44	6.06	6.69	7.29	7.94	8.57	9.26	9.94
4.2K	0.05	0.08	0.11	0.13	0.16	0.18	0.24	0.30	0.36	0.47	0.59	0.68	0.77	0.90

等级	温度范围	标定范围	精度
A	4K~325K	无	±1K
4L	4K~325K	4K~325K	±0.1K
3H	2.8K~325K	2.8K~325K	±0.1K
1.4L	1.4K~325K	65K~330K	±0.1K
温度计精度=（校准不确定度² + 重复性²）^0.5

Cernox温度传感器碳陶瓷温度计低温测量

Cernox®低温温度传感器技术参数

基本信息
标准曲线	不适用，每个传器需要标定后才能使用
推荐激励	20µV（0.1 至0.5 K）；63µV（0.5 K至1 K）；T>1.2 K时小于等于10 mV
推荐激励下的损耗	典型10-5 W@300 K，10-7 W @4.2 K，10-13 W@0.3 K（依据型号和温度）
热响应时间	CU封装: 1.5 ms@4.2 K，50 ms@77 K，135 ms@273 K SD封装：15 ms@4.2 K，0.25 s@77 K，0.8 s@273 K AA封装：0.4 s@4.2 K，2 s@77 K，1.0 s@273 K
用于辐射环境	推荐用于辐射环境
用于磁场环境	推荐在低温磁场中使用。磁阻通常在30 K以上可忽略，且不受磁场的取向的显著影响
重复性	±3 mK @ 4.2 K